首页> 中国专利> 一种双频He-Ne激光器频率测量装置及其测量方法

一种双频He-Ne激光器频率测量装置及其测量方法

摘要

本发明涉及一种双频He-Ne激光器频率测量装置及其测量方法,其包括相连接的稳频激光系统和双频激光频率测量系统;稳频激光系统将可调谐激光器的输出激光频率锁定至光频梳的任意梳齿,使得可调谐激光器的输出激光频率可溯源至铷钟频率基准;双频激光频率测量系统将已锁定的可调谐激光器的输出激光与待测双频He-Ne激光器的输出激光拍频,同时测量两个正交偏振激光频率;本发明可同时测双频He-Ne激光两个正交偏振激光的绝对频率,测量结果可溯源至铷钟频率基准,系统抗干扰能力强适用于工业环境中的双频He-Ne激光器频率测量和标定。

著录项

  • 公开/公告号CN102589856B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-04-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201210058127.X

  • 申请日2012-03-07

  • 分类号G01M11/02(20060101);

  • 代理机构61215 西安智大知识产权代理事务所;

  • 代理人贾玉健

  • 地址 100084 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室

  • 入库时间 2022-08-23 09:18:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-27

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01M 11/02 授权公告日:20140416 终止日期:20170307 申请日:20120307

    专利权的终止

  • 2014-04-16

    授权

    授权

  • 2014-04-16

    授权

    授权

  • 2012-09-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20120307

    实质审查的生效

  • 2012-09-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20120307

    实质审查的生效

  • 2012-07-18

    公开

    公开

  • 2012-07-18

    公开

    公开

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