公开/公告号CN102279789B
专利类型发明专利
公开/公告日2014-02-05
原文格式PDF
申请/专利权人 三星电子(中国)研发中心;三星电子株式会社;
申请/专利号CN201010205209.3
申请日2010-06-13
分类号G06F11/36(20060101);
代理机构11286 北京铭硕知识产权代理有限公司;
代理人韩明星;罗延红
地址 210008 江苏省南京市中山路268号汇杰广场8楼
入库时间 2022-08-23 09:17:45
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2014-02-05
授权
授权
2012-02-01
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20100613
实质审查的生效
2011-12-14
公开
公开
机译: 调试系统,半导体集成电路和半导体集成电路的调试方式,是一种具有分析装置的调试系统,该分析装置对成为调试基板和目标的半导体集成电路的动作进行分析。
机译: 系统,仿真器,调试系统以及调试系统中的方法
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