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用高频光强调制绿激光微弱信号测距测厚的系统

摘要

一种利用相位测距法原理设计的用高频光强调制绿激光微弱信号测距测厚系统,由锁相稳频、激光发射与调制、光电接收检测,低频选频放大与整形和鉴相显示五部分组成。该系统采用绿激光做光源,与红激光相比,在炉衬测厚仪中,可大大提高信噪比和测量灵敏度,并可采用内调制绿激光源,做到体积小、成本低、效率高,结构简单,使用方便安全,前景非常好。

著录项

  • 公开/公告号CN1138969C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2004-02-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京师范大学;

    申请/专利号CN00112063.8

  • 发明设计人 华家宁;吴栋;

    申请日2000-01-31

  • 分类号G01B11/06;

  • 代理机构32207 南京知识律师事务所;

  • 代理人柯惟中

  • 地址 210097 江苏省南京市宁海路122号

  • 入库时间 2022-08-23 08:56:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-03-29

    专利权的终止未缴年费专利权终止

    专利权的终止未缴年费专利权终止

  • 2004-02-18

    授权

    授权

  • 2000-07-19

    公开

    公开

  • 2000-06-21

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

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