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应用程序切片技术的静态缺陷检测方法

摘要

本发明公开一种应用程序切片技术的静态缺陷检测方法,包括:A.获取待检测缺陷模式的缺陷特征;B.根据所述的缺陷特征,计算所有分支节点的路径条件,并生成切片准则;C.按照所述的切片准则,遍历控制流图进行程序切片,对控制流图进行重构,得到已重构的控制流图;D.利用所述已重构的控制流图,应用缺陷状态迭代算法,进行缺陷模式状态机计算;E.若当前控制流图节点为非汇合节点,则将所有缺陷状态中的状态条件进行汇聚及更新操作;F.如果当前控制流图节点为汇合节点,则按照当前缺陷状态的状态条件进行状态合并。采用该方法能够在一定程度上提高缺陷检测的效率,并减少基于路径合并策略的路径敏感检测方法的误报。

著录项

  • 公开/公告号CN102110051B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京邮电大学;

    申请/专利号CN201010624200.6

  • 申请日2010-12-31

  • 分类号G06F11/36(20060101);

  • 代理机构11228 北京汇泽知识产权代理有限公司;

  • 代理人程殿军

  • 地址 100876 北京市海淀区西土城路10号

  • 入库时间 2022-08-23 09:17:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-02-05

    授权

    授权

  • 2011-08-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20101231

    实质审查的生效

  • 2011-06-29

    公开

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