法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2014-02-05
授权
授权
2011-08-10
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20101231
实质审查的生效
2011-06-29
公开
公开
机译: 带有静态存储单元软缺陷检测单元的半导体集成电路,用于相同缺陷的软缺陷检测方法以及未经保留测试的相同缺陷的测试方法
机译: 在多处理器电路中分配和执行任务的方法,涉及应用静态分配的组合,当检测到缺陷簇时,将单个簇的位置与缺陷簇的位置重合的静态分配的组合
机译: 包括静态存储单元软缺陷检测装置的半导体集成电路及其软缺陷检测方法