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集成电路元件、半导体元件以及半导体工艺

摘要

本发明一实施例提供一种集成电路元件,包括一半导体基板,具有一正面与一背面,且一集成电路组件形成于正面上;一层间介电层,形成于半导体基板的正面上;一接触插塞,形成于层间介电层中并电性连接集成电路组件;以及一导孔结构,形成于层间介电层中并延伸穿过半导体基板,其中导孔结构包括一金属层、围绕金属层的一金属籽晶层、围绕金属籽晶层的一阻障层、以及位于金属层与金属籽晶层之间的一阻挡层,阻挡层包括镁、铁、钴、镍、钛、铬、钽、钨或镉的至少其中之一。本发明可大幅减少镀铜以及后续的研磨工艺所耗费的时间,进而减少三维堆叠的集成电路的制作成本。

著录项

  • 公开/公告号CN102074545B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 台湾积体电路制造股份有限公司;

    申请/专利号CN201010543649.X

  • 发明设计人 林咏淇;吴文进;眭晓林;

    申请日2010-11-09

  • 分类号

  • 代理机构隆天国际知识产权代理有限公司;

  • 代理人姜燕

  • 地址 中国台湾新竹市

  • 入库时间 2022-08-23 09:16:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-11-06

    授权

    授权

  • 2011-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 23/52 申请日:20101109

    实质审查的生效

  • 2011-05-25

    公开

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