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TFT-LCD制程中多层UV烘烤炉的UV照度的检测方法及用于实施该方法的取片组合装置

摘要

本发明提供一种TFT-LCD制程中多层UV烘烤炉的UV照度的检测方法及用于实施该方法的取片组合装置,该TFT-LCD制程中多层UV烘烤炉的UV照度的检测方法包括如下步骤:步骤1、提供TFT-LCD制程中多层UV烘烤炉、取片装置、检测控制系统及可检测UV照度的传感器;步骤2、在取片装置上设置传感器;步骤3、通讯连接检测控制系统与传感器;步骤4、操作取片装置将传感器送到多层UV烘烤炉的炉层中需要检测UV照度的位置处;步骤5、传感器采集数据,并将取得的数据传送到检测控制系统,从而实现检测。该取片组合装置包括取片装置及设置于取片装置的传感器。

著录项

  • 公开/公告号CN102435307B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-09-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市华星光电技术有限公司;

    申请/专利号CN201110351921.9

  • 发明设计人 尹凤鸣;江文彬;

    申请日2011-11-09

  • 分类号G01J1/00(20060101);H01L21/66(20060101);

  • 代理机构44265 深圳市德力知识产权代理事务所;

  • 代理人林才桂

  • 地址 518132 广东省深圳市光明新区光明大道9—2号

  • 入库时间 2022-08-23 09:16:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-21

    专利权质押合同登记的生效 IPC(主分类):G01J 1/00 登记号:2019440020032 登记生效日:20190426 出质人:深圳市华星光电技术有限公司 质权人:北京银行股份有限公司深圳分行 发明名称:TFT-LCD制程中多层UV烘烤炉的UV照度的检测方法及用于实施该方法的取片组合装置 授权公告日:20130918 申请日:20111109

    专利权质押合同登记的生效、变更及注销

  • 2013-09-18

    授权

    授权

  • 2013-09-18

    授权

    授权

  • 2012-06-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J1/00 申请日:20111109

    实质审查的生效

  • 2012-06-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 1/00 申请日:20111109

    实质审查的生效

  • 2012-05-02

    公开

    公开

  • 2012-05-02

    公开

    公开

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