首页> 中国专利> 一种基于高光谱分析的铜品质检测方法及其检测系统

一种基于高光谱分析的铜品质检测方法及其检测系统

摘要

本发明公开了一种基于高光谱分析的铜品质检测方法,包括:(1)构建待测铜料的特征图像立方体;(2)从特征图像立方体中提取出待测铜料各成分的含量和光谱信息;(3)评价待测铜料的品质;本发明方法在传统的高光谱图像处理技术上引入了特征图像立方体的概念,同时获取待测铜料的图像特征和光谱特征,并利用融合后的PSO-nsNMF算法对铜料进行特征提取、品质检测,保证了铜品质的检测精度。本发明还公开了一种基于高光谱分析的铜品质检测系统,包括:高光谱成像单元和图像处理单元;本发明系统利用计算机结合高光谱成像仪器对铜样本图像实时在线采集、处理数据,保证了铜品质的检测时效性。

著录项

  • 公开/公告号CN102507462B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-09-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN201110350365.3

  • 发明设计人 戴华平;王旭;胡红亮;王玉涛;

    申请日2011-11-08

  • 分类号

  • 代理机构杭州天勤知识产权代理有限公司;

  • 代理人胡红娟

  • 地址 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号

  • 入库时间 2022-08-23 09:15:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-23

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/27 授权公告日:20130925 终止日期:20141108 申请日:20111108

    专利权的终止

  • 2013-09-25

    授权

    授权

  • 2012-07-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/27 申请日:20111108

    实质审查的生效

  • 2012-06-20

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号