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用于校准坐标测量装置的方法及其坐标测量机

摘要

为了校准坐标测量装置,提供具有已知特性的参考测量对象。记录所述参考测量对象上的多个参考测量值。基于所述参考测量值且基于所述参考测量对象的所述已知特性,确定校准数据,其中所述校准数据包括第一数目的多项式系数,所述第一数目的多项式系数被设计为基于至少一个多项式变换校正非线性测量误差。根据本发明的一方面,在迭代方法中将所述第一数目的多项式系数减少到较少的第二数目,其中形成多项式系数的多个对,并且其中如果在对的所述多项式系数之间的统计相关性大于限定的阈值,则消除该对的多项式系数。

著录项

  • 公开/公告号CN101918792B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-07-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 卡尔蔡司工业测量技术有限公司;

    申请/专利号CN200880125134.9

  • 发明设计人 S·昆兹曼;T·赫尔德;T·恩格尔;

    申请日2008-11-11

  • 分类号G01B21/04(20060101);

  • 代理机构11247 北京市中咨律师事务所;

  • 代理人杨晓光

  • 地址 德国奥伯科亨

  • 入库时间 2022-08-23 09:15:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-07-17

    授权

    授权

  • 2011-02-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 21/04 申请日:20081111

    实质审查的生效

  • 2010-12-15

    公开

    公开

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