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一种通道式X射线安全检查设备透射图像形变校正方法

摘要

本发明涉及一种通道式X射线安全检查设备透射图像形变校正方法,包括以下步骤:1)计算探测器的投影比例因子:根据通道式X射线安全检测设备中X射线源、物体通道平面以及探测板三者之间的位置关系,计算每一块探测器板及板上各探测器的投影比例因子;2)计算探测器形变校正因子:针对每一个探测器,分别计算得到一个形变校正因子;3)插值放大处理:根据形变校正因子的差异,对透射图像各像素点进行插值放大处理,得到形变校正结果图像。本发明的有益效果为:可以在现有通道式X射线安全检查设备的基础上,不增加任何硬件成本,仅通过本发明图像形变校正方法实现对透射图像的形变校正,减少安检员的漏判和误判。

著录项

  • 公开/公告号CN102230975B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-05-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海瑞示电子科技有限公司;

    申请/专利号CN201110087882.6

  • 发明设计人 杨奎;李启磊;王满仓;

    申请日2011-04-08

  • 分类号

  • 代理机构北京纽乐康知识产权代理事务所;

  • 代理人唐忠庆

  • 地址 201103 上海市闵行区宜山路1618号D厂房1楼东

  • 入库时间 2022-08-23 09:14:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-05-29

    授权

    授权

  • 2012-01-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V 5/00 申请日:20110408

    实质审查的生效

  • 2011-11-02

    公开

    公开

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