基于阵列旋转的综合孔径辐射计可见度相位误差校正方法

摘要

本发明提供一种基于阵列旋转的综合孔径辐射计可见度相位误差校正方法，该方法通过180度天线阵列旋转，使得被测场景的辐射信号分别被旋转前后天线阵列接收；利用天线阵元相位误差不随阵列旋转变化的特点，建立方程组，联立求解得到天线阵元相位误差，进而依据天线阵元相位误差修正可见度。本发明不依赖额外的内部噪声注入网络与外部辅助源，可利用观测场景本身对综合孔径辐射计可见度的阵元相位误差进行校正，有效降低传统综合孔径辐射计校正系统的复杂度。