基于FIO的兼容性测试方法、装置、电子设备及存储介质

摘要

本发明实施例提供了一种基于FIO的兼容性测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。方法包括：获取待测芯片的属性信息；对属性信息进行分析处理得到芯片类型信息；根据芯片类型信息确定FIO文件测试信息；根据FIO文件测试信息对待测芯片进行测试处理得到测试数据；将测试数据与预设的数据测试阈值进行比较处理得到芯片测试结果。根据本发明实施例的方案，能够根据待测芯片的类型而自动选择不同的测试方法，使得芯片的测试过程更加灵活快速，提高芯片的测试效率。