一种MCU FLASH与Program Counter故障复合诊断方法及系统

摘要

本申请提供的一种MCU FLASH与Program Counter故障复合诊断方法及系统，属于微电子故障诊断领域，该方法包括：将编译后的关键功能部分从固件中独立出来，划分为part1、part2两部分，并对其强制指定FLASH存储起始地址，依次跳到part1、part2所在的FLASH区域进行故障检测；FLASH区域检测无故障，则Program Counter指向该区域的起始地址执行相应关键功能函数，并通过判断其返回值是否为该区域的起始地址，检测Program Counter是否能够正常工作。本申请能够在保证FLASH检测有效性的前提下，大大缩短检测时间，避免由于检测时间过长引发的安全问题；同时将关键功能所在的FLASH起始地址与Program Counter检测结合起来，在执行关键功能的同时进行Program Counter故障检测，避免额外设置检测项带来的FLASH占用及时间花销，使得检测更加直接、有效。