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通用校准目标、运载工具、用于校准传感器的方法和介质

摘要

本发明涉及通用校准目标、运载工具、用于校准传感器的方法和介质。描述了用于通用校准目标的技术。通用校准目标包括核心和外主体。核心是与第一显著属性相关联的核心。外主体与第二显著属性相关联。第一显著属性和第二显著属性被配置为通过传感器模态来观察,并且第一显著属性和第二显著属性与运载工具的至少一个传感器相对应。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-04-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01D18/00 专利申请号:2021116174412 申请日:20211227

    实质审查的生效

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