基于轻量级注意力机制的缺陷检测方法、装置及存储介质

摘要

本发明涉及基于轻量级注意力机制的缺陷检测方法、装置及存储介质，应用于工件表面缺陷检测技术领域，包括：通过特征提取网络获取与原特征图不同比例的三个特征图，通过1×1卷积使得三个特征图的通道数相同，然后引入轻量级的互关注模块，通过线性投影矩阵获取到输入特征融合的空间注意力特征以及通道注意力特征，通过空间注意力特征以及通道注意力特征的融合实现从像素到区域的互关注，从而实现对关注点周围信息的关注，结合周围信息认知缺陷目标的相关特征，提高检测结果的精准度，且轻量级的互关注模块相比于现有技术中的卷积神经网络来说，在计算量上明显的减少，且参数不多，不会使模型的体积明显增加。