缺陷检测方法、装置、存储介质及处理器

摘要

本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、存储介质及处理器。其中，该方法包括：获取预定图像中待检测设备上的待检测区域，其中，所述待检测区域包括多个像素点；对所述待检测区域进行均值滤波，得到滤波后的各像素点的滤波像素值；根据所述待检测区域内多个像素点的初始像素值与所述滤波像素值确定图像的缺陷像素点；根据所述缺陷像素点确定所述待检测区域中的缺陷区域。本发明解决了无法准确进行缺陷检测的技术问题。