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基于温度特性的IGBT模块老化特征解耦参数监测方法

摘要

本发明公开了一种基于温度特性的IGBT模块老化特征解耦参数监测方法,具体为:建立IGBT‑散热器系统热网络模型,迭代计算得到每个损耗周期起始节点稳态温度差和半损耗周期节点稳态温度差,构建老化特征参数;结合IGBT模块热阻、饱和压降失效标准,推导老化因子计算公式,建立老化特征参数对应老化程度的映射关系;固定工作条件,测量健康模块在周期损耗下的结温曲线,计算健康状态的老化特征参数值;测量不同老化程度的任意模块在周期损耗下的结温曲线,计算该模块老化特征参数值;最终计算得到被测模块的散热路径和键合线老化水平。本发明的老化特征解耦参数提取更为简单便捷、侵入小、成本低,解耦表征失效模式,表征更全面。

著录项

  • 公开/公告号CN115563754A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2023-01-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西南交通大学;

    申请/专利号CN202211171696.5

  • 申请日2022-09-26

  • 分类号G06F30/20;G06F119/02;G06F119/08;

  • 代理机构成都信博专利代理有限责任公司;

  • 代理人秦立飞

  • 地址 610031 四川省成都市金牛区二环路北一段111号

  • 入库时间 2023-06-19 18:11:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-01-03

    公开

    发明专利申请公布

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