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一种小扰动一次调频合格率测试方法、介质及系统

摘要

本发明公开了一种小扰动一次调频合格率测试方法、介质及系统,此方法包括步骤:1)提取机组一次调频小扰动频率数据;2)在机组一次调频小扰动频率数据中随机选择一组小扰动频率数据,生成一次调频小扰动测试信号;3)根据一次调频小扰动测试信号,得到小扰动测试一次调频功率响应数据并计算贡献电量率;4)在间隔一定时间后重复步骤2)‑3),收集得到贡献电量率数据集,根据贡献电量率数据集得到小扰动一次调频合格率。本发明整体操作简便,可解决小扰动下一次调频合格率难以测试的问题,为全面评价和改善小扰动下一次调频性能提供基础数据。

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    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-06

    公开

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