提高主动延迟滤波器件抗单粒子翻转效应的方法和系统

摘要

本发明涉及一种提高主动延迟滤波器件抗单粒子翻转效应的方法和系统，包括以下步骤：确定重离子辐照参数，对写入预设数据图形码后的待测器件进行重离子辐照；对重离子辐照期间待测器件的单粒子翻转界面数据进行采集，并判断其是否符合宇航器件抗辐射等级安全裕度设计要求，若不满足，则进入下一步骤，否则预辐照总剂量实验结束；采用60Co辐照实验装置对待测器件进行预辐照，直至待测器件的相关电学参数变化控制在正常范围内后，返回上一步骤再次进行重离子辐照。本发明可以广泛应用于集成电路抗辐射加固技术及空间单粒子效应评估技术领域。