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一种部分相干贝塞尔高斯涡旋光束拓扑荷测量方法及装置

摘要

本发明公开了一种部分相干贝塞尔高斯涡旋光束拓扑荷测量方法,包括:获取部分相干贝塞尔‑高斯涡旋光束,基于部分相干贝塞尔‑高斯涡旋光束,获得未加入摄动聚焦后光束的第一光强,在所需平面上的部分相干贝塞尔‑高斯涡旋光束分别添加位置相同,摄动不同的第二摄动点和第三摄动点,获得聚焦后光束的第二光强和第三光强,将所述第一光强分别与所述第二光强和所述第三光强作差后,通过逆傅里叶变换得交叉谱密度函数,利用所述交叉谱密度函数得交叉谱密度相位图,测量出部分相干贝塞尔高斯涡旋光束拓扑荷数和所述拓扑荷数正负性,实现了应用于低相干度光束的拓扑荷测量,且其测量准确度不随相干度变化而变化,解决了无法测量拓扑荷数正负的缺点。

著录项

  • 公开/公告号CN115356000A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-11-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州大学;

    申请/专利号CN202210969399.9

  • 申请日2022-08-12

  • 分类号G01J11/00;

  • 代理机构苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人殷海霞

  • 地址 215000 江苏省苏州市吴中区石湖西路188号

  • 入库时间 2023-06-19 17:38:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-18

    公开

    发明专利申请公布

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