SoC测试中的基于平均值余量的测试封装扫描链平衡方法

摘要

SoC测试中的基于平均值余量的测试封装扫描链平衡方法，涉及系统芯片测试技术领域。本发明解决了现有基于BFD算法实现测试封装扫描链平衡方法以及基于平均值近似的SoC扫描链平衡方法中存在的不足。本发明的测试封装扫描链平衡方法的过程为：首先，计算Wrapper扫描链长度平均值；然后，根据获得的长度平均值确定误差限，所述误差限为所述长度平均值的1％至3％；最后，根据所述误差限及Wrapper扫描链长度平均值计算得到取值区间，把该取值区间作为全局优化的指导原则，实现测试封装扫描链平衡。本发明采用Wrapper扫描链平衡算法的原理实现缩短单个IP核测试时间这一目标，进而缩短SoC测试时间。