首页> 中国专利> 一种基于离散正交多项式的共相位误差校正方法

一种基于离散正交多项式的共相位误差校正方法

摘要

本发明公开一种基于离散正交多项式的共相位误差校正方法,属于光学技术领域。本发明的一种基于离散正交多项式的共相位误差校正方法,针对合成孔径光学系统各子镜的共相位误差,利用评价指标与像差模式系数之间的近似数学关系,通过引入一系列离散正交模式偏置并确定评价指标,能够准确地估计像差模式系数,且只需要少量迭代就能够使评价指标达到收敛,实现共相位误差的校正。本发明只需要获得焦面图像就能够确定评价指标,不需要改变原有成像光学系统或者增加额外器件;本发明利用评价指标与像差系数之间明确的数学关系,收敛速度快,校正精度高,不会陷入局部极值;本发明评价指标改变明显,提高对噪声的鲁棒性。

著录项

  • 公开/公告号CN115236828A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-10-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN202210931815.6

  • 发明设计人 董冰;张泽霞;任虹禧;

    申请日2022-08-04

  • 分类号G02B7/182;G02B27/62;G02B27/00;

  • 代理机构北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人邬晓楠

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2023-06-19 17:19:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-25

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号