一种粉末多晶X射线衍射仪检测二氧化硅中α态晶体二氧化硅含量的方法

摘要

本发明公开了一种粉末多晶X射线衍射仪检测二氧化硅中α态晶体二氧化硅含量的方法，其包括如下具体步骤：规定了多晶X射线衍射仪参数设定参考值;把样品用球磨机粉碎研磨制成粉末状；取制备好的α态晶体二氧化硅微粉与无定型二氧化硅微粉按质量比混合，用阶梯扫描方式收集强度数据；收集无定型二氧化硅微粉与未装样品的空白样品架散射强度，扣除空白样品散射后，以无定型二氧化硅微粉散射曲线为标准，将晶态与非晶态散射分离开来，算出无定形二氧化硅的积分面积，α态晶体二氧化硅微粉的积分面积,后求得一个样品的校正因子Kα值；将待测样品在测定Kα值相同的光路条件与阶梯扫描范围，收集待测样品散射强度曲线，扣除空白架散射后，利用分峰软件，把散射曲线中晶态与非晶态散射分离开来，获得无定形二氧化硅的积分面积，α态晶体二氧化硅微粉的积分面积，计算态晶体二氧化硅含量。