一种基于空间辐照的PKA信息的智能预测方法及系统

摘要

本发明提供了一种基于空间辐照的PKA信息的智能预测方法及系统。所述方法包括：从数据集中获取样本数据，并将所述样本数据划分为训练集和测试集，所述样本数据包括入射粒子的信息以及入射粒子辐照器件后产生的PKA的信息；定义所述训练集和所述测试集中分别使用的自变量和因变量；根据所述自变量和所述因变量建立线性回归模型；对所述线性回归模型进行评估；根据对所述线性回归模型的评估结果确定线性回归的预测次数。本发明通过人工智能计算和预测仿真方法，可以预测不同辐照条件下材料产生的PKA相应信息，进而分析PKA信息对半导体器件辐照损伤过程的影响，为器件辐照损伤实时性分析、材料选取提供重要依据，且预测效率高、成本低。