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一种锗酸盐温致锗配位数变化的分析方法

摘要

本发明涉及一种锗酸盐温致锗配位数变化的分析方法,步骤如下:步骤1,对拉曼光谱仪进行适合高温检测改造,采用脉冲激光取代连续激光并利用脉冲周期光子计数法采集拉曼信号,同时以显微共焦显微镜的空间分辨效应作为基础,通过与显微高温热台相耦合以对样品工位周边高温环境的黑体辐射屏蔽;步骤2,取锗酸盐样品放于铂金坩埚中,然后将铂金坩埚放入显微高温热台的炉腔中对样品原位升温;步骤3,采用步骤1改进后的拉曼光谱仪的物镜对样品聚焦,待样品升温到所设定温度时进行拉曼光谱的测定;步骤4,对步骤3所测定的拉曼光谱进行分析,进而得到锗酸盐温致锗配位数及其变化,其可有效地实时追踪锗酸盐从固态晶态到熔态液体整个过程中锗配位数的变化历程。

著录项

  • 公开/公告号CN115112631A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-09-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN202210664946.2

  • 申请日2022-06-14

  • 分类号G01N21/65;

  • 代理机构武汉谦源知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人尹伟

  • 地址 200444 上海市宝山区上大路99号

  • 入库时间 2023-06-19 16:58:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-27

    公开

    发明专利申请公布

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