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一种基于偏序关系的通用并发缺陷检测方法及系统

摘要

本发明提出一种基于偏序关系的通用并发缺陷检测方法及系统,属于软件测试技术领域和软件可靠性领域,可以将多种并发缺陷经过转化得到待测序列,进而进行检测,本发明不局限于某一种特定的并发缺陷,能够检测数据竞争、死锁、原子性违背等多种并发缺陷。能够在多项式时间内得到检测结果,且检测得到的缺陷都是真实的,没有误报情况。

著录项

  • 公开/公告号CN115080374A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-09-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院软件研究所;

    申请/专利号CN202110265363.8

  • 发明设计人 蔡彦;云昊;

    申请日2021-03-11

  • 分类号G06F11/36;

  • 代理机构北京君尚知识产权代理有限公司;

  • 代理人李文涛

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村南四街4号

  • 入库时间 2023-06-19 16:51:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-20

    公开

    发明专利申请公布

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