公开/公告号CN115080374A
专利类型发明专利
公开/公告日2022-09-20
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院软件研究所;
申请/专利号CN202110265363.8
申请日2021-03-11
分类号G06F11/36;
代理机构北京君尚知识产权代理有限公司;
代理人李文涛
地址 100190 北京市海淀区中关村南四街4号
入库时间 2023-06-19 16:51:17
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-09-20
公开
发明专利申请公布
机译: 基于参考系的缺陷检测系统及缺陷检测方法
机译: 异常像素确定方法,基于异常像素确定的缺陷像素确定方法,射线照相检测器,异常像素确定系统和缺陷像素确定系统
机译: 一种方法来生成学习模型,学习完成模型,表面缺陷检测方法,钢材的制造方法,通过确定方法,等级确定方法,表面缺陷确定程序,通过确定程序,确定系统 ,以及钢材的制造设施