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一种室温强场磁光电多物理场低温扫描成像系统

摘要

本发明涉及磁光测试系统领域,具体为一种室温强场磁光电多物理场低温扫描成像系统。本发明利用磁体、低温恒温器、常温扫描位移台和常温物镜,在实现超强磁场、极低温和真空极端测量条件下,无需使用条件苛刻且昂贵的低温真空物镜和低温扫描位移台,仅需常规的常温扫描位移台和常温物镜即可实现极端条件测试以及控温定点测试。本发明通过设置不同设备参数以及控制光谱仪、探测器与光弹调制器可实现磁场、电场、光场和微波的同时激励下的拉曼、荧光、磁光克尔、磁圆二色谱、线二色谱、双折射等扫描成像测试。有效解决了行业磁光特性研究不能达到对样品低温、多常温外场联用调控测试样品磁、光、电性质;降低了实验研究成本以及技术设备难度。

著录项

  • 公开/公告号CN115060657A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-09-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202210750949.8

  • 发明设计人 彭波;郭永正;

    申请日2022-06-28

  • 分类号G01N21/17;G01N21/65;G01N21/64;G01N21/41;G01N21/19;G01N21/01;

  • 代理机构电子科技大学专利中心;

  • 代理人闫树平

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 16:51:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-16

    公开

    发明专利申请公布

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