辐照缺陷产生过程的模拟方法和系统

摘要

一种辐照缺陷产生过程的模拟方法，包括：确定高能粒子辐照在模拟体系中所产生的初级离位原子能谱；获得不同能量初级离位原子的生成概率，基于概率重复进行初级离位原子抽样获得大量初级离位原子；采用高通量计算模拟技术，并发开展大量初级离位原子在材料体系内引发的级联碰撞过程模拟计算；实时监控任务作业，并及时进行错误识别与纠正；采用高通量缺陷分析技术，对产生缺陷数量和团簇类别进行自动分析与统计；在存活的初始损伤缺陷尺寸分布达到连续标准后，停止初级离位原子抽样及级联碰撞模拟，进而统计分析获得缺陷峰值数量、存活率、尺寸分布等初始缺陷信息。该方法能够高效、精准地获得缺陷的离位峰、辐照缺陷的存活状态等信息。