基于YOLOv4-Tiny改进的绝缘子缺陷检测方法

摘要

本发明涉及一种基于YOLOv4‑Tiny改进的绝缘子缺陷检测方法。该方法将通道注意力网络应用到了YOLOv4‑tiny的特征提取网络中，显著增强了主干网络的特征提取能力。在特征融合阶段，将原本的FPN改进成为了两条特征融合路径双向特征金字塔结构，使不同尺度特征之间能够更加充分的融合。最后在损失函数的设计上，使用了能够解决检测过程中出现的正负样本数量不均衡问题的Focal损失代替二元交叉熵损失函数。实验结果表明，与Faster R‑CNN和YOLOv3相比，本发明方法在平均分类精度和检测速率以及漏检误检方面有较大的提升，性能表现优异。