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一种温控偏振度可调中波红外偏振辐射源及偏振度测量方法

摘要

本发明公开的一种温控偏振度可调中波红外偏振辐射源及偏振度测量方法,属于光电探测领域。本发明将中波红外线偏振片置于变温透射支架中,利用液态惰性气体对变温透射支架及其内部的中波红外线偏振片降温,通过改变黑体源和变温透射支架温度,调制偏振辐射源总辐射中的完全偏振辐射成分占比,进而实现中波红外偏振辐射源偏振度可调。同时,降低变温透射支架变温仓温度,能够有效减少中波红外线偏振片自发辐射和变温透射支架杂散光的负面干扰,提高辐射源出射光偏振度的调制精度。根据偏振度测量结果,标定偏振辐射源出射光场偏振度与黑体源温度、变温透射支架温度的函数关系;根据标定的函数关系实现对温控偏振度可调中波红外偏振辐射源偏振度的预测。

著录项

  • 公开/公告号CN114674428A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN202111596003.2

  • 申请日2021-12-24

  • 分类号G01J3/02;G01J3/447;

  • 代理机构北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张利萍

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2023-06-19 15:47:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-28

    公开

    发明专利申请公布

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