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太阳辐照度辐射计衍射效应修正系数的检测装置、方法

摘要

本发明涉及一种太阳辐照度绝对辐射计的衍射效应修正系数的检测装置,包括太阳模拟光源,孔径光阑,透镜,挡光盘和光强检测仪;所述太阳模拟光源照明所述孔径光阑形成几何光和衍射光;所述透镜焦距为f,所述孔径光阑位于所述透镜物方一侧2f位置,所述光强检测仪位于所述透镜的像方一侧的大于2f位置;所述挡光盘可选择的位于所述透镜的像方一侧相距所述透镜f位置。本发明还提供一种太阳辐照度绝对辐射计的衍射效应修正系数的检测方法,运用实验检测手段获得衍射效应修正系数,大大提升太阳辐照度绝对辐射计的绝对测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN114674433A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202111598157.5

  • 发明设计人 衣小龙;方伟;叶新;董航;

    申请日2021-12-24

  • 分类号G01J3/28;G01J3/02;

  • 代理机构长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郭婷

  • 地址 130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号

  • 入库时间 2023-06-19 15:47:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-28

    公开

    发明专利申请公布

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