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基于自由形式光源的快速制定ADI的方法

摘要

本发明提供一种基于自由形式光源的快速制定ADI的方法,取光源文件,光源文件为在一个半径为1的圆内,每个取样点均记录一个光强值,每个取样点均记录其x坐标、y坐标和光强;根据每个取样点的光强分解得到X方向的第一光强和Y方向的第二光强;之后计算第一总光强与第二总光强的光强比;提供版图,获取版图中连接孔X方向的第一设计值和Y方向的第二设计值,以连接孔刻蚀后的偏差值与第一设计值的总和作为X方向的第一ADI值,以第一ADI值与光强比的比值作为Y方向的第二ADI值。发明可以减少对原始芯片设计版图进行ADI值设定和平均标准偏差的添加的ADI目标值设定迭代次数,减少OPC调试时间,加快出版。

著录项

  • 公开/公告号CN114660888A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力集成电路制造有限公司;

    申请/专利号CN202210154849.9

  • 发明设计人 夏明;于世瑞;

    申请日2022-02-21

  • 分类号G03F1/36;G03F1/68;

  • 代理机构上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘昌荣

  • 地址 201203 上海市浦东新区良腾路6号

  • 入库时间 2023-06-19 15:46:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-24

    公开

    发明专利申请公布

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