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一种验证近红外激光器光斑尺寸的装置及使用方法

摘要

本发明涉及一种验证近红外激光器光斑尺寸的装置及使用方法,属于半导体激光器技术领域。装置包括激光器、APD芯片、放大电路和LED芯片,其中,所述APD芯片排列在电路板上,每个APD芯片连接一个放大电路,放大电路后置LED芯片,APD芯片前方设置激光器。本发明可以在远距离采集激光器的发射的光斑信息,确定光斑尺寸,方便对激光器进行设计与研究。

著录项

  • 公开/公告号CN114665374A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 山东华光光电子股份有限公司;

    申请/专利号CN202011533328.1

  • 发明设计人 刘琦;黄宏伟;

    申请日2020-12-23

  • 分类号H01S5/00;H03F3/45;

  • 代理机构济南金迪知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵龙群

  • 地址 250101 山东省济南市历下区高新区天辰大街1835号

  • 入库时间 2023-06-19 15:44:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-24

    公开

    发明专利申请公布

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