首页> 中国专利> 断裂面检查装置和断裂面检查方法

断裂面检查装置和断裂面检查方法

摘要

一种检查由断裂分割而产生的第一断裂面(FS1)和第二断裂面(FS2)的断裂面检查装置(10),所述断裂面检查装置(10)具备:数据获取部(20),获取各个断裂面的各自的二维数据和三维数据;轮廓提取部(51),根据二维数据提取第一断裂面(FS1)的第一轮廓和第二断裂面(FS2)的第二轮廓;变换量计算部(52),计算对第二轮廓进行仿射变换来变换成第一轮廓时的变换量X(affine);变形修正部(53),用变换量X(affine)对第二断裂面(FS2)的三维数据进行仿射变换来计算变形修正数据;以及比较部(56),对第一断裂面(FS1)的三维数据和变形修正数据进行比较。

著录项

  • 公开/公告号CN114667433A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社安永;

    申请/专利号CN202080078164.X

  • 发明设计人 村上僚祐;

    申请日2020-11-19

  • 分类号G01B11/25;

  • 代理机构北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人吕琳;朴秀玉

  • 地址 日本三重县伊贺市

  • 入库时间 2023-06-19 15:44:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-24

    公开

    国际专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号