首页> 中国专利> 一种基于内窥图像的孔内表面缺陷检测及测量方法

一种基于内窥图像的孔内表面缺陷检测及测量方法

摘要

一种基于内窥图像的孔内表面缺陷检测及测量方法,基于图像处理方法将孔内表面的缺陷内窥图像还原为符合人类视觉习惯的正投影图像,通过像素数及像素间距离实现缺陷轮廓测量;具体测量方案包括:孔内表面的缺陷内窥图像获取及预处理;孔内表面的缺陷内窥图像中心检测;孔内表面的缺陷内窥图像圆环截取及差值展开;基于缺陷背景纹理的非线性拟合;校正后图像的横纵比调整及缺陷边缘像素读取及尺寸测量;本发明通过增加背景纹理,能够准确判断图像中心,测量效率高,通用性强,可满足工业现场的大规模检测需求,提出的孔内表面缺陷测量方法效率高、通用性强。

著录项

  • 公开/公告号CN114648518A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 陕西科技大学;

    申请/专利号CN202210339036.7

  • 发明设计人 盛强;蔡乐平;申亮;李程;

    申请日2022-04-01

  • 分类号G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T5/00;G06T5/10;G06T3/40;

  • 代理机构西安智大知识产权代理事务所;

  • 代理人季海菊

  • 地址 710021 陕西省西安市未央区大学园区陕西科技大学

  • 入库时间 2023-06-19 15:43:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-21

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号