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一种基于双光谱角的波段聚类选择方法

摘要

本发明涉及图像分析领域,尤其涉及一种基于双光谱角的波段聚类选择方法。所述方法为:对样本图片进行预处理,得到目标像素分辨率的高光谱图像;根据背景与中心元素的空间相关性和光谱相关性构建双光谱角特征,对原始特征和双光谱角特征进行计算;利用原始特征和双光谱角特征分别进行聚类;根据关联函数对聚类结果进行优化,使熵函数最小,迭代聚类结果区域稳定后结束,得到最终波段选择结果。本发明兼顾像素间的空间相关性和波段间的光谱相关性,在不牺牲物理属性信息的前提下高效表征高光谱图像的有效特征,降低后续数据处理的计算量。

著录项

  • 公开/公告号CN114580488A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航天计量测试技术研究所;

    申请/专利号CN202011390102.0

  • 发明设计人 周阳;高阳;常虹;董斐;

    申请日2020-12-02

  • 分类号G06K9/62;G06V10/762;

  • 代理机构核工业专利中心;

  • 代理人蔡丽

  • 地址 100076 北京市丰台区南大红门路一号

  • 入库时间 2023-06-19 15:32:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-03

    公开

    发明专利申请公布

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