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一种直接化学发光荧光光谱理论模型

摘要

本发明提供了一种直接化学发光荧光光谱理论模型,模型如下:由于激发液不同喷射速度、角度导致的多次检测误差CV变异性,本发明将其从原来的5%减小到1%。

著录项

  • 公开/公告号CN114544568A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州和迈精密仪器有限公司;

    申请/专利号CN202210040893.7

  • 发明设计人 蒋凯;张涛;汤亚伟;高少佳;

    申请日2022-01-14

  • 分类号G01N21/64;G01N21/76;G06F17/10;

  • 代理机构苏州吴韵知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人金伟强

  • 地址 215000 江苏省苏州市高新区科技城锦峰路8号5号楼401室

  • 入库时间 2023-06-19 15:27:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-27

    公开

    发明专利申请公布

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