针对FPGA器件SerDes模块的单粒子效应测试方法及装置

摘要

本申请涉及集成电路技术领域，特别涉及一种针对FPGA器件SerDes模块的单粒子效应测试方法及装置，其中，方法包括：利用作为主控器件的第一FPGA器件生成目标码型的第一SBS码；在作为待测试设备的第二FPGA器件传输第一SBS码的过程中，控制第一FPGA器件使得第一SBS码接受辐射，并检测辐射后目标码型的第二SBS码；参照第二SBS码，统计SBS的误码数量和错误类型，生成单粒子效应测试结果。由此，解决了相关技术中对于FPGA器件SerDes模块测试的稳定性低、精确度不高、实时性较差，且测试适用性较差等问题。