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等效低温年代学测试年龄的计算方法、装置及相关设备

摘要

本申请公开了一种等效低温年代学测试年龄的计算方法、装置及相关设备,该方法包括:利用蒙特卡罗方法进行随机搜索,得到目标垂直剖面上每一样品的一组热史曲线;针对每组热史曲线,进行筛选、采样、取均值,得到一条目标热史曲线;计算得到各目标热史曲线对应于第一低温年代学方法的第一模拟年龄,以及,计算得到各目标热史曲线对应于第二低温年代学方法的第二模拟年龄;针对每一目标热史曲线,根据第一模拟年龄,第二模拟年龄,以及年龄测试值,计算得到所述目标热史曲线的等效测试年龄。通过将不同低温年代学方法的测试值及模拟值应用于同一热史曲线集合中,计算得到测试等效值,降低了实验成本。

著录项

  • 公开/公告号CN114528521A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中山大学;

    申请/专利号CN202210269235.5

  • 发明设计人 丁汝鑫;

    申请日2022-03-18

  • 分类号G06F17/10;

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈嘉雯

  • 地址 510275 广东省广州市新港西路135号

  • 入库时间 2023-06-19 15:24:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-24

    公开

    发明专利申请公布

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