存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法

摘要

本发明实施例提供一种存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法，其中，存储器包括：输入电路，适于接收外部时钟信号，并输出第一测试时钟信号；测试路径选择电路，与输入电路连接，适于根据读出时钟命令输出第二测试时钟信号；输出电路，与测试路径选择电路连接，适于将第二测试时钟信号转换为第三测试时钟信号输出到存储器外部，本发明实施例通过量化时钟信号输入被测试的每一个芯片的时间延迟，从而获取芯片的实际输出延迟，提高了多芯片并行测试的准确性。