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用压电晶体监控电子束增材制造的操作

摘要

公开了用于监控电子束增材制造系统的操作的部件的设备、系统、方法以及套件。监控系统包括一个或多个测量设备,测量设备定位在增材制造系统的构建室的内部的至少一个壁上。一个或多个测量设备中的每一个包括压电晶体。监控系统进一步包括通信地联接到一个或多个测量设备的分析部件。分析部件编程为接收与压电晶体的振荡频率有关的信息。在构建室内形成制品期间,在一个或多个测量设备上的材料的收集引起压电晶体的振荡频率的变化,该变化能够由分析部件检测并可用于确定制品的潜在构建异常。

著录项

  • 公开/公告号CN114433869A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 通用电气公司;

    申请/专利号CN202111289040.9

  • 发明设计人 斯科特·阿伦·戈尔德;

    申请日2021-11-02

  • 分类号B22F10/28;B22F12/90;B33Y10/00;B33Y30/00;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 美国纽约州

  • 入库时间 2023-06-19 15:13:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-06

    公开

    发明专利申请公布

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