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一种晶圆级可重构Chiplet集成结构的制备方法

摘要

本申请属于半导体封装技术领域,具体提供了一种晶圆级可重构Chiplet集成结构的制备方法,该方法包括如下步骤:S1,在晶圆上制备可重构拓扑网络,并在其上覆盖绝缘层;S2,在晶圆上制备凹槽,并进行钝化;S3,将Chiplet放入凹槽中,并进行化学机械抛光,连接Chiplet和可重构拓扑网络;S4,在晶圆上制备硅通孔和微凸点,并进行减薄;S5,多层晶圆进行堆叠键合;S6,将键合后的多层晶圆进行划片、封装。本发明方法制备的晶圆级可重构Chiplet集成结构具有可重构特性;多层晶圆堆叠工艺能够避免了子模块失效引起的稳定性较差的问题;垂直堆叠结构使得水平布线的面积和长度减小,缩小集成结构的面积开销;因此,发明方法制备的集成结构的适用性和稳定性较强,且集成度较高。

著录项

  • 公开/公告号CN114420578A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN202210093602.0

  • 申请日2022-01-26

  • 分类号H01L21/60;H01L21/768;H01L21/52;

  • 代理机构重庆萃智邦成专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人许攀

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 15:05:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/60 专利申请号:2022100936020 申请日:20220126

    实质审查的生效

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