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Z型扫描床位置精度的校正方法、存储介质及终端设备

摘要

本发明实施例公开了一种Z型扫描床位置精度的校正方法、存储介质及终端设备。本发明的Z型扫描床位置精度的校正方法,包括以下步骤:S1、获取扫描床的竖直高度信息;S2、根据所述竖直高度信息,获取精调信息;S3、获取相对高度信息;S4、根据所述精调信息和所述相对高度信息,生成校正信息。本发明的Z型扫描床位置精度的校正方法提供了更高效、更准确的位置校正方法,以提高位置的校正精度,进而提高CT机的成像质量。

著录项

  • 公开/公告号CN114391861A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 纳米维景(上海)医疗科技有限公司;

    申请/专利号CN202111541758.2

  • 发明设计人 陈浩维;

    申请日2021-12-16

  • 分类号A61B6/03;A61B6/00;

  • 代理机构上海得民颂知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈开山

  • 地址 201318 上海市浦东新区广丹路222弄2号101室、102室

  • 入库时间 2023-06-19 15:05:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-26

    公开

    发明专利申请公布

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