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任意应变状态下二维材料和应变物体的应变状态检测方法

摘要

本发明提供了一种任意应变状态下二维材料和应变物体的应变状态检测方法,包括:在二次谐波测量系统目标偏振模式下,采用已知应变状态对待测二维材料进行标定,得到待测二维材料的参量;在二次谐波测量系统目标偏振模式下,采集不同偏振角度的入射光对任意应变状态下的待测二维材料的待测点进行照射所产生的二次谐波信号强度,得到多组目标数据对;通过任意应变状态下的应变状态计算算式对多组目标数据对和待测二维材料的参量进行计算,得到待测二维材料的待测点的应变状态和待测二维材料的晶向。本发明的任意应变状态下二维材料的应变状态检测方法能够对任意应变状态下二维材料的应变状态进行检测。

著录项

  • 公开/公告号CN114397279A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN202210060403.X

  • 申请日2022-01-19

  • 分类号G01N21/63;

  • 代理机构北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人王术兰

  • 地址 300000 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2023-06-19 15:03:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-26

    公开

    发明专利申请公布

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