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一种抗全局光照的自对齐异或码方法

摘要

本发明公开了一种抗全局光照的自对齐异或码方法,步骤如下:首先将包裹相位的高频特性转换为一张二值的辅助图案;采用一种新的异或编码方法,利用辅助图案将高频信息嵌入到常见的低频二进制码图案中,将其转化为新的高频编码图案;采用一种新的异或解码方法,利用辅助图案将高频编码图案还原成低频二进制码图案,使离焦误差从编码图案的边缘转移到编码图案的单色区域,并消除此误差。本发明能有效解决透镜离焦和恶劣的测量环境导致的全局光照问题。可以抑制全局光照引起的误差,且不需要额外添加辅助图案。

著录项

  • 公开/公告号CN114399445A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东南大学;

    申请/专利号CN202210056870.5

  • 发明设计人 达飞鹏;陈玉翀;

    申请日2022-01-18

  • 分类号G06T5/00;G06T17/00;G01B11/25;

  • 代理机构南京众联专利代理有限公司;

  • 代理人张天哲

  • 地址 210000 江苏省南京市玄武区四牌楼2号

  • 入库时间 2023-06-19 15:03:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-26

    公开

    发明专利申请公布

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