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一种应用于同步辐射领域的半导体探测器的分析系统及方法

摘要

本发明涉及一种应用于同步辐射领域的半导体探测器的分析系统,包括依次连接的模拟前端、ADC数字采样模块、FPGA算法处理模块、控制单元、通讯接口以及具有能谱分析模块的上位机,且所述模拟前端与所述控制单元连接。本发明还涉及一种应用于同步辐射领域的半导体探测器的分析方法,能够克服传统模拟电路处理速度慢和不灵活的特点,提升整个系统的能量分辨率,有效降低系统死时间。同时,本发明能够减小系统体积,提高通讯稳定性。

著录项

  • 公开/公告号CN114355431A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海高等研究院;

    申请/专利号CN202111572233.5

  • 发明设计人 顾颂琦;姜政;王宇;黄宇营;

    申请日2021-12-21

  • 分类号G01T1/24;

  • 代理机构上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人杨怡清

  • 地址 201210 上海市浦东新区张江高科技园区海科路99号

  • 入库时间 2023-06-19 14:57:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-15

    公开

    发明专利申请公布

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