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光斑外接圆测试工装及测试方法

摘要

本发明涉及光斑测试技术领域,具体而言,涉及一种光斑外接圆测试工装及测试方法。光斑外接圆测试工装包括底座、线性位移台、角度位移台、光束质量分析仪和读数头安装架;线性位移台和读数头安装架均安装于底座,角度位移台安装于线性位移台的移动部,光束质量分析仪安装于角度位移台的旋转部,读数头安装架用于安装读数头,光束质量分析仪的接收面与读数头的发光端相对设置;移动部至少能够沿Y轴移动,旋转部能够绕X轴和Y轴转动,X轴与读数头俯仰运动的轴线平行,Y轴垂直于光束质量分析仪的接收面。测试方法应用于上述光斑外接圆测试工装。本发明提供的光斑外接圆测试工装及测试方法,可获得读数头在真实工况下发出的两个光斑的外接圆直径。

著录项

  • 公开/公告号CN114322804A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京华卓精科科技股份有限公司;

    申请/专利号CN202111677478.4

  • 发明设计人 高嘉铭;高立冬;邵禹韬;

    申请日2021-12-31

  • 分类号G01B11/08(20060101);

  • 代理机构11726 北京荟英捷创知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人左文

  • 地址 100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十街19号院2号楼2层(北京自贸试验区高端产业片区亦庄组团)

  • 入库时间 2023-06-19 14:53:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-12

    公开

    发明专利申请公布

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