首页> 中国专利> 局部照射微动目标微多普勒特征提取方法

局部照射微动目标微多普勒特征提取方法

摘要

本发明公开一种局部照射微动目标微多普勒特征提取方法,特征提取精度高。本发明方法,包括如下步骤:(10)微动部件平移旋转:通过坐标变换实现微动部件的平移、旋转;(20)获取探测区面元:将探测区域按照角度分为多个部分,将进入探测区域的微动部件所有面元进行划分,得到探测区面元;(30)遮挡面元去除:采用多边形裁剪算法,去除微动部件面元被遮挡部分,得到每个面元未遮挡的多边形的顶点列表;(40)RCS计算:利用物理光学法计算微动部件的RCS;(50)微多普勒特征获取:采用短时傅里叶变换方法所述对RCS进行特征分析,获得时频图,根据所述时频图得到微动部件微多普勒特征。

著录项

  • 公开/公告号CN114325627A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京理工大学;

    申请/专利号CN202111516753.4

  • 申请日2021-12-13

  • 分类号G01S7/41(20060101);

  • 代理机构32203 南京理工大学专利中心;

  • 代理人马鲁晋

  • 地址 210094 江苏省南京市孝陵卫200号

  • 入库时间 2023-06-19 14:53:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-12

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号