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基于幅相差异性分析的地基SAR高质量像素点选择方法

摘要

本发明公开了一种基于幅相差异性分析的地基SAR高质量像素点选择方法,使用本发明可以从地基SAR图像中准确的选择出幅相单点性和区域性稳定的像素点,有利于提高差分干涉形变测量精度,为滑坡灾害的预测预警提供准确的一维形变数据。首先采用幅度离差法,对像素点进行幅度分类;其次基于聚类相位分析,选择出幅度和相位均高度稳定的像素点;然后基于时序相位分析,选择出幅度高稳定、相位高稳定的像素点;最后基于区域幅相分析,选择出幅相区域性稳定像素点。

著录项

  • 公开/公告号CN114325698A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN202111456469.2

  • 申请日2021-12-02

  • 分类号G01S13/90(20060101);G06V10/762(20220101);G06V10/764(20220101);G06K9/62(20220101);

  • 代理机构11120 北京理工大学专利中心;

  • 代理人袁瑞霞

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2023-06-19 14:53:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-12

    公开

    发明专利申请公布

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