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用于光线跟踪的相交测试

摘要

本发明公开了用于光线跟踪的相交测试。一种用于在光线跟踪系统中执行光线的相交测试的系统和方法。光线跟踪系统使用包括多个节点的分层加速结构,每个节点标识能够由光线相交的一个或多个元素。所述系统利用串行模式光线相交过程,其中,当光线与包围体积相交时,生成有限数目的新光线请求。

著录项

  • 公开/公告号CN114331802A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 想象技术有限公司;

    申请/专利号CN202111130835.5

  • 发明设计人 D·巴纳德;

    申请日2021-09-26

  • 分类号G06T1/20(20060101);G06T1/60(20060101);G06T15/06(20110101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人党晓林;王万影

  • 地址 英国赫特福德郡

  • 入库时间 2023-06-19 14:51:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-12

    公开

    发明专利申请公布

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