MCU双线调试电路及MCU双线调试方法

摘要

本发明公开了一种MCU双线调试电路及MCU双线调试方法，MCU双线调试电路包括通信协议处理模块和事件处理模块；其中，通信协议处理模块用于按照通信协议与片外的调试器进行信息交互；事件处理模块与通信协议处理模块电性连接，事件处理模块用于根据接收到的调试指令执行相应的动作，包括控制MCU的CPU、访问MCU内部的SRAM、访问MCU内部的FLASH中的至少一种，并将内部数据通过通信协议处理模块传输至调试器。根据本发明的MCU双线调试电路，通信协议处理模块提供了高可靠性的通信交互方式，且只使用两个IO接口即可完成通信；事件处理模块提供了丰富的调试功能，方便软件开发人员进行程序调试。